半導(dǎo)體芯片調(diào)試控溫高低溫一體設(shè)備

半導(dǎo)體芯片調(diào)試控溫高低溫一體設(shè)備

半導(dǎo)體芯片調(diào)試控溫高低溫一體設(shè)備

　　無(wú)錫冠亞微流控芯片測(cè)溫系統(tǒng)是無(wú)錫冠亞自主研發(fā)生產(chǎn)的設(shè)備，結(jié)合以往制冷加熱控溫的經(jīng)驗(yàn)，生產(chǎn)符合微流控芯片測(cè)試的設(shè)備，適合微流控芯片行業(yè)需求。

　　對(duì)于智能化微流控芯片測(cè)溫系統(tǒng)的定義雖有不同的解釋和理解，但采用計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試（CAT）技術(shù)已成為測(cè)量?jī)x器發(fā)展的必然趨勢(shì)。不論采用單片機(jī)、單板機(jī)、敞視或主用通用微機(jī)，計(jì)算機(jī)在測(cè)量?jī)x器中充當(dāng)了越來(lái)越重要的角色，發(fā)揮著越來(lái)越大的作用。單片機(jī)、單板機(jī)的簡(jiǎn)單測(cè)試系統(tǒng)這類(lèi)系統(tǒng)將單片機(jī)或單板機(jī)裝入測(cè)量?jī)x器，用于控制、管理和協(xié)調(diào)測(cè)量?jī)x器各部分硬件的工作。通常成本較低，由于大多采用匯編語(yǔ)言編程，一般也具有較快的測(cè)試速度。有的系統(tǒng)配有簡(jiǎn)單的外設(shè)接口，例如可用打印機(jī)輸出測(cè)試、數(shù)據(jù)，有的還配有鍵盤(pán)和顯示器，可完成簡(jiǎn)單的人機(jī)交互。微流控芯片測(cè)溫系統(tǒng)難于得到功能強(qiáng)大的軟件包的支持。有的系統(tǒng)采用修改系統(tǒng)數(shù)據(jù)區(qū)完成對(duì)測(cè)試對(duì)象的編程，這使得非專(zhuān)業(yè)編程人員難于完成編程工作。這類(lèi)系統(tǒng)比較適合于電子元器件生產(chǎn)線上的固定測(cè)試要求的大批測(cè)試。

芯片高低溫測(cè)試機(jī)應(yīng)用說(shuō)明

　　無(wú)錫冠亞芯片高低溫測(cè)試機(jī)是針對(duì)電子元器件行業(yè)測(cè)試所推出的，那么，這類(lèi)芯片高低溫測(cè)試機(jī)適用于那些行業(yè)呢？

　　經(jīng)過(guò)無(wú)錫冠亞的努力，其開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的芯片高低溫測(cè)試機(jī)TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型號(hào)可以用于中小規(guī)模數(shù)字集成電路邏輯功能及靜態(tài)直流參數(shù)測(cè)試，在微弱電流測(cè)試方面有良好的特性；用于二管、三管、VMOS、光電搞合器、可控硅等各種半導(dǎo)體分立器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，測(cè)試原理符合國(guó)標(biāo)及軍標(biāo)要求，功率參數(shù)采用300uS脈沖測(cè)試，并采用數(shù)據(jù)、圖形雙重顯示。用于普通、化、時(shí)間等各類(lèi)電磁繼電器參數(shù)的測(cè)試，在觸點(diǎn)接觸電阻和時(shí)間參數(shù)的測(cè)試方面有良好的特性，被我國(guó)國(guó)軍標(biāo)電磁繼電器生產(chǎn)線選用。